فیزیک 6. توصیف نانوکریستال ها- با استفاده از الیپسومتری طیف نما

خرید این محصول

» :: فیزیک 6. توصیف نانوکریستال ها- با استفاده از الیپسومتری طیف ظاهر

توصیف نانوکریستال ها- حرف استعمال از الیپسومتری طیف نما

1. مقدمه

آغازین کاربرد الیپسومتری از بهر اندازه گیری پوشش های نازک پلی- و نانوکریستال به دهه ها پیش بر می گردد. مهمترین گام در جاده تحقیقات الیپسومتری پوشش های نازک کامپوزیت، شناخت اولین الیپسومتری طیف نما در دهه 70  بوده است [3, 4, 8]، که توانایی اندازه گیری نقش دی الکتریک را امکان پذیر ساخت، که جزء انگاری آن مستقیما در ارتباط با حساسیت وضعیت چگالی مشترک الکترونیک بوده که بستگی به تغییرات ساختار کریستال دارد. اولین مدل ها حرف مبنای روش میانگین موثر حرف استفاده از عوامل سارنده توابع دی الکتریک [5] بوده، درحالیکه بخش حجیمی از موئلفه ها در ارتباط با ویژگی های کریستال با پوشش نازک می باشند. این آیین بر مبنای نیرومندی اش، محبوب می باشد.

خرید این محصول